atomic force microscope

  1. 原子力显微镜

网络词典

atomic force microscope

英 ˈætɪkəʊ læbər ˈfɔːkt mikrɒs 美 ˈætɪkəʊ læbər ˈfɔːkt mikrɒs
名词 中文翻译:原子力显微镜
同义词: ['AFM', 'Atomic Force Microscope']

例句:

  1. 1.The atomic force microscope is used to study the surface structure of materials.
    原子力显微镜用于研究材料的表面结构。
  2. 2. This atomic force microscope can provide high-resolution images of biological samples.
    这台原子力显微镜可以提供生物样本的高分辨率图像。
  3. 3. The atomic force microscope was used to detect defects in the metal surface.
    原子力显微镜被用来检测金属表面的缺陷。