semiconductor parameters measurement

  1. 半导体参数测量

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semiconductor parameters measurement

英 ˌsɛmɪkərˈændə(r) ˈpaɪrəmətʃə(r) ; ˌsɛmɪkərˈændə(r) ˈpærəmətʃə(r) 美 ˌsɛmɪkərˈændə(r) ˈpaɪrəmətʃə(r) ; ˌsɛmɪkərˈændə(r) ˈpærəmətʃə(r)
名词短语 中文翻译:半导体参数测量
同义词: ['半导体特性测量,半导体参数测定']

例句:

  1. 1.The company's new semiconductor chips are expected to revolutionize the industry.
    该公司的新型半导体芯片预计将革新该行业。
  2. 2. The engineer conducted a thorough analysis of the semiconductor parameters before making any recommendations.
    工程师在提出任何建议之前,对半导体参数进行了彻底分析。
  3. 3.The research team is currently measuring the semiconductor parameters of the device under test.
    研究小组目前正在测量待测设备中的半导体参数。