wafer test

  1. 晶片试验

网络词典

wafer test

英 ˈwævər tɛst 美 ˈwævər tɛst
名词 中文翻译:Unknown
同义词: ['thin slice test', 'thin section test', 'thin layer test']

例句:

  1. 1. 薄片测试
    一种用于检测材料厚度的实验方法
  2. 2.薄片试验
    一种用于评估材料性能的实验方法
  3. 3. 薄片检验
    一种用于确保材料质量的检验方法
  4. 1. The engineer conducted a wafer test on the new material to ensure its strength and durability.
    工程师对新材料进行了薄片测试,以确保其强度和耐用性。
  5. 2. During the manufacturing process, it is crucial to perform a wafer test to detect any defects in the silicon wafers.
    在制造过程中,进行薄片测试以检测硅晶圆中的任何缺陷至关重要。
  6. 3. The company's quality control department regularly conducts wafer tests to maintain thehighest standards of product quality.
    该公司的质量控制部门定期进行薄片测试,以保持产品的最高质量标准。